鑄件(jiàn)的(de)檢測主要(yào)包括尺寸檢查、外(wài)觀和(Ω€ααhé)表面的(de)目視(shì)檢查、化(huà ∑ $)學成分(fēn)分(fēn)析和(hé)•¥♦力學性能(néng)試驗，對(duì)于要(yào)求比較重要(yào) ¶ ®或鑄造工(gōng)藝上(shàng)容易産生(shēng)問(wèn)題的(de)鑄件β‌(jiàn)，還(hái)需要(yào)進行(xín ≤↔βg)無損檢測工(gōng)作(zuò)，可£₩<∑(kě)用(yòng)于球墨鑄鐵(tiě)件(jiàn)質量檢測的(de)無損檢測技≤γ(jì)術(shù)包括液體(tǐ)滲透檢測↔♠♠、磁粉檢測、渦流檢測、射線檢測、超聲檢測及振動檢測等。

　　一(yī)、鑄件(jiàn)表面及近(jìn)表面缺陷的(de)檢測
　　1）液體(tǐ)滲透檢測
　　液體(tǐ)滲透檢測用(yòng)來(lái)檢查鑄件(←≥≤jiàn)表面上(shàng)的(de)各種開(kāi)口缺陷，如(rú)表面裂紋、表面針孔®♥等肉眼難以發現(xiàn)的(de)缺陷。常用(yòng)的(©♥>≤de)滲透檢測是(shì)著(zhe)色檢測，它是(shì)将具有(yǒuβπ♠♣)高(gāo)滲透能(néng)力的(de)有(yǒu)色（一(yī)般為(wèi)紅(hóng) ↓色）液體(tǐ)（滲透劑）浸濕或噴灑在鑄件(jiàn)表面上(sh$∞àng)，滲透劑滲入到(dào)開(kāi)口缺陷裡(lǐ)面，快(kuài)速擦去(∑σ qù)表面滲透液層，再将易幹的(de)顯示劑（也®≤(yě)叫顯像劑）噴灑到(dào)鑄件(jiàn)表面上(sh£☆←àng)，待将殘留在開(kāi)口缺陷中的(de)滲透劑吸出₽ε來(lái)後，顯示劑就(jiù)被染色，'♠ Ω從(cóng)而可(kě)以反映出缺陷的₹÷(de)形狀、大(dà)小(xiǎo)和(hé)分(fēn)布情"Ωβ∞況。需要(yào)指出的(de)是(shì)，滲透₽‍檢測的(de)精确度随被檢材料表面粗糙度增加而降低(dī)，即表面越光(guāng)檢$≠≠€測效果越好(hǎo)，磨床磨光(guāng)的(de)表>₹↓面檢測精确度最高(gāo)，甚至可(kě)以檢測出↕♥晶間(jiān)裂紋。除著(zhe)色檢測外(wài)，熒光Ω§α(guāng)滲透檢測也(yě)是(shì)常用(yòng)的(de)液體(tǐ)滲透檢εγ測方法，它需要(yào)配置紫外(wài)光(guāng)燈進行(xíng)照(z€↓↓hào)射觀察，檢測靈敏度比著(zhe)色檢測高(gāo)。
　　2）渦流檢測
　　渦流檢測适用(yòng)于檢查表面以下(xià)一(y§♥¶ī)般不(bù)大(dà)于6——7MM深的(de)缺陷。渦流檢測分(fēn)×✘∞放(fàng)置式線圈法和(hé)穿過式線圈法2種。當試件(ji&πàn)被放(fàng)在通(tōng)有(yǒu)交£✔₹變電(diàn)流的(de)線圈附近(jì✘αn)時(shí)，進入試件(jiàn)的(de)交變磁場(chǎn®∑λg)可(kě)在試件(jiàn)中感生(shēng)出方向與激勵磁場(chǎng)相(xi↓♠↔♣àng)垂直的(de)、呈渦流狀流動的(de)電(diàn©απ)流（渦流），渦流會(huì)産生(shēng)一(yī)與激勵磁場(chǎng₩ §₩)方向相(xiàng)反的(de)磁場(chǎ☆÷♦♣ng)，使線圈中的(de)原磁場(chǎng)有(yǒu)部分(fēn)減少(shǎo$©)，從(cóng)而引起線圈阻抗的(de)變化(huà)。如(r↕€"©ú)果鑄件(jiàn)表面存在缺陷，則渦流的(de)電(diàn)特征會(huì)發生(★★≠shēng)畸變，從(cóng)而檢測出缺陷的(de)存在，≠↔渦流檢測的(de)主要(yào)缺點是(shì)不(bù)能(néng)"α¶直觀顯示探測出的(de)缺陷大(dà)小(xiǎo)和(hé)形狀，一(yī)般隻能(néng∑'≤)确定出缺陷所在表面位置和(hé)深度，另外(wài)它對($φ<duì)工(gōng)件(jiàn)表面上(shàng)小(xiǎo)的(de)開(kāi)¥✔★口缺陷的(de)檢出靈敏度不(bù)如(rú)滲透檢測。
　　3）磁粉檢測
　　磁粉檢測适合于檢測表面缺陷及表面以下(xià)數(shù)∏©λ¥毫米深的(de)缺陷，它需要(yào)直流（或交流）磁εγ×π化(huà)設備和(hé)磁粉（或磁懸浮液）才能(néng)進行(α∑xíng)檢測操作(zuò)。磁化(huà)設備λ¥用(yòng)來(lái)在鑄件(jiàn)內(nèi)外(wài)表面産生β÷≈ε(shēng)磁場(chǎng)，磁粉或磁懸浮液用(yòng)來(lái)顯示缺陷。當在鑄件σ&(jiàn)一(yī)定範圍內(nèi)産生(sh<§‍ēng)磁場(chǎng)時(shí)，磁化(huà)區("™qū)域內(nèi)的(de)缺陷就(jiù)會(huì¶δ)産生(shēng)漏磁場(chǎng)，當撒上(shàng)磁粉或懸浮液時≈₩(shí)，磁粉被吸住，這(zhè)樣就(jiù)可(kě)以顯示出缺陷來(lái©•)。這(zhè)樣顯示出的(de)缺陷基本上(shàng)都(dōu)是(shì)‌λ橫切磁力線的(de)缺陷，對(duì)于平行(xíng)于磁力線的(de™←)長(cháng)條型缺陷則顯示不(bù 'ε)出來(lái)，為(wèi)此，操作(zuò)時(shí)需要(yàoε‌<₩)不(bù)斷改變磁化(huà)方向，以保證能(néng)夠檢查出<≈未知(zhī)方向的(de)各個(gè)"™‍缺陷。
　　二、鑄件(jiàn)內(nèi)部缺陷的(de)檢測
　　對(duì)于內(nèi)部缺陷，常用(yòγσ×÷ng)的(de)無損檢測方法是(shì)射線檢測和(hé)超聲檢測。其中射線檢測效β‍&果最好(hǎo)，它能(néng)夠得(de)到(dào)反映內(σ®nèi)部缺陷種類、形狀、大(dà)小(xi>$β©ǎo)和(hé)分(fēn)布情況的(de)直觀圖像，但(dàn)對(duì)于大↑'↕→(dà)厚度的(de)大(dà)型鑄件(jiàn)，超聲≈★φ檢測是(shì)很(hěn)有(yǒu)效的(de)，可(kě)以比較精确地$¥¥(dì)測出內(nèi)部缺陷的(de)位置、當量大(dà)小(xiǎo)和(hé)分(fēn)₽"布情況。
　　1）射線檢測（微(wēi)焦點XRAY）
　　射線檢測，一(yī)般用(yòng)X射線↓☆↔或γ射線作(zuò)為(wèi)射線源，因此需要(yào)産生(shēng)射線的(de)設備''♥和(hé)其他(tā)附屬設施，當工(gōng)件(j×®iàn)置于射線場(chǎng)照(zhàoεΩ×<)射時(shí)，射線的(de)輻射強度就(jiù)¶φ×會(huì)受到(dào)鑄件(jiàn)內(nèi)部缺陷的(de)γ>☆★影(yǐng)響。穿過鑄件(jiàn)射出的(de)輻射強度随著(zhe)缺陷大₩↑(dà)小(xiǎo)、性質的(de)不(bù)同ε♠£而有(yǒu)局部的(de)變化(huà)，形成缺陷的(de)射線圖像，通(tōng)過射線膠片予φ✔¥以顯像記錄，或者通(tōng)過熒光(guāng)屏予以實時( ​ ¥shí)檢測觀察，或者通(tōng)過輻射計(jì)數(shù)儀檢測。★©δ其中通(tōng)過射線膠片顯像記錄的(de)方法是(s÷•§↑hì)最常用(yòng)的(de)方法，也"∏(yě)就(jiù)是(shì)通(tōng)≠✘常所說(shuō)的(de)射線照(zhào)相(xiàn★'"πg)檢測，射線照(zhào)相(xiàng)所反映出來(lái)的(de≠")缺陷圖像是(shì)直觀的(de)，缺陷形狀、大(dà)小(xiǎo)、數(÷φ∏shù)量、平面位置和(hé)分(fēn)布範圍都(dōu)​$能(néng)呈現(xiàn)出來(lái)，隻是(shì)缺陷深度一(yī)般不(bù)能←$ε (néng)反映出來(lái)，需要(yào)采取特殊措施和↕πδ(hé)計(jì)算(suàn)才能(néng)确定。國δ£✔¥(guó)際鑄業(yè)網出現(xiàn)應用(yòng)射線計(jì)算(sΩ‍ uàn)機(jī)層析照(zhào)相(₩≥←xiàng)方法，由于設備比較昂貴，使用(yòng∞β)成本高(gāo)，無法普及，但(dàn)這(zhè)種新技(jì)術(γ←♦γshù)代表了(le)高(gāo)清晰度射線檢測技(jì)術(shù)未來(láφβi)發展的(de)方向。此外(wài)，使用(yòng)近(jì≠βεσn)似點源的(de)微(wēi)焦點X射線系統實際上(shàng)也(yě)可(kě)♣ 消除較大(dà)焦點設備産生(shēng)的(de)模糊邊緣，使圖像輪廓清晰。使用₩<↑(yòng)數(shù)字圖像系統可(kě)提高(gāo)圖像的(de)信噪比，進一(yī)★ 步提高(gāo)圖像清晰度。
　　2）超聲檢測
　　超聲檢測也(yě)可(kě)用(yòng)于© 檢查內(nèi)部缺陷，它是(shì)利用(yòng)具有(yǒu§£)高(gāo)頻(pín)聲能(néng)的(d≈↕™e)聲束在鑄件(jiàn)內(nèi)部的(de)傳播中，碰到(dào)內(nèi)部表面≥↑↑或缺陷時(shí)産生(shēng)反射而發現(xiàn)缺陷。反射聲能(néng'​€<)的(de)大(dà)小(xiǎo)是(β♣®shì)內(nèi)表面或缺陷的(de)指向性和(hé)性質以及這(★ ∞‍zhè)種反射體(tǐ)的(de)聲阻抗的(de)函數(shù)，因此可(kě)以≠¥γ應用(yòng)各種缺陷或內(nèi)表面反射的(de)聲能(néng)來(lπ∑ σái)檢測缺陷的(de)存在位置、壁厚或者表面下(xià​£)缺陷的(de)深度。超聲檢測作(zuò)為(wèi)一(yī)種應用(yò≤σng)比較廣泛的(de)無損檢測手段，其主要π" ♦(yào)優勢表現(xiàn)在：檢測靈敏度高(gāo)，可​↓(kě)以探測細小(xiǎo)的(de)裂紋；具有(yǒu)大(dà)的(de)穿透能(né≠∑∑ng)力，可(kě)以探測厚截面鑄件(jiàn)。其主要(yào)局限性在于：§‌對(duì)于輪廓尺寸複雜(zá)和(hé)指向性不(bù)好(hǎo)的(de)斷開(kāi)性¥×缺陷的(de)反射波形解釋困難；對(duì)于不(bù)合意的(de)內(nèi)部 •≥α結構，例如(rú)晶粒大(dà)小(xiǎo)、組織結構、多(duō)孔性、夾雜(z≤₹₹÷á)含量或細小(xiǎo)的(de)分(fēn)散析出物(wù€‍¥₹)等，同樣妨礙波形解釋；另外(wài)，檢測時(shí)需要(yà§α←o)參考标準試塊。