旭合貿易鑄件(jiàn)質量檢測

　　鑄件(jiàn)的(de)檢測主要(yào)包括尺寸檢查、外(wài)觀和(hé)表面≈§Ω®的(de)目視(shì)檢查、化(huà)學成分(fēn)分(fēn)析和(hé)力學性能₩ε(néng)試驗，對(duì)于要(yào)求比較重要(yào)或鑄造工(gōng)藝上(s ≤★₽hàng)容易産生(shēng)問(wèn)題的(de)鑄件(jiàn)，還(h☆® ái)需要(yào)進行(xíng)無損檢測工(gōng)作(zuò)，可(kě)用‍¶☆(yòng)于球墨鑄鐵(tiě)件(jià∞φn)質量檢測的(de)無損檢測技(jì)術(shù)包括液體(tǐ)滲透檢測、磁粉檢測、λ★☆§渦流檢測、射線檢測、超聲檢測及振動檢測等。

　　一(yī)、鑄件(jiàn)表面及近(jìn)表≥δ面缺陷的(de)檢測
　　1）液體(tǐ)滲透檢測
　　液體(tǐ)滲透檢測用(yòng)來(lái)檢查鑄件(jiàn)表面上(shàn♣&©g)的(de)各種開(kāi)口缺陷，如(★λ♣↕rú)表面裂紋、表面針孔等肉眼難以發現(xiàn)的(d≠ e)缺陷。常用(yòng)的(de)滲透檢測是(shì)著(zhe)色檢測，它是(shì)将具有("αε∑yǒu)高(gāo)滲透能(néng)力的(de)有(yǒu)色（一(yī)般為(wèi)紅(h•‌∏δóng)色）液體(tǐ)（滲透劑）浸濕或噴灑在鑄件(jiàn)表面上×₩£(shàng)，滲透劑滲入到(dào)開←ε(kāi)口缺陷裡(lǐ)面，快(kuài)速擦去♣'Ω☆(qù)表面滲透液層，再将易幹的(de)©→λ↔顯示劑（也(yě)叫顯像劑）噴灑到(dào)鑄件(jiàn)表面上(shàng)，待 ÷将殘留在開(kāi)口缺陷中的(de)滲透♣φ∑劑吸出來(lái)後，顯示劑就(jiù)被染色，從(cóng)而可(kě)以反映出缺陷≤‌ ±的(de)形狀、大(dà)小(xiǎo)和(hé)分(fēn€​★)布情況。需要(yào)指出的(de)是(shì)，滲透檢測的(de)精确度随被檢材料表面粗λ>©糙度增加而降低(dī)，即表面越光(guāng)檢測效果越好(hǎo)，磨床↑☆♥'磨光(guāng)的(de)表面檢測精确度最高(gāo)，甚至可(kě)以檢測出©γ  晶間(jiān)裂紋。除著(zhe)色檢測外(wài)，熒光(guāng)滲透檢測也(yě)是∑‍(shì)常用(yòng)的(de)液體(tǐ)滲透檢測方法，它需要(yào)配置紫₽•外(wài)光(guāng)燈進行(xíng)照(zhào)射觀察↓≠↔₽，檢測靈敏度比著(zhe)色檢測高(gāo)。
　　2）渦流檢測
　　渦流檢測适用(yòng)于檢查表面以下(xià)一(yī)般不(bù)大(dà)于6——‌± £7MM深的(de)缺陷。渦流檢測分(fēn)放(fàng)置式線€★←圈法和(hé)穿過式線圈法2種。當試件(jiàn)被放(fàng)在通(tōng)β 有(yǒu)交變電(diàn)流的(de)線圈附近(jìn)時(sh§↑í)，進入試件(jiàn)的(de)交變→® £磁場(chǎng)可(kě)在試件(jiàn)中感生(shēng)出方向與激勵磁場(chǎΩ​§ng)相(xiàng)垂直的(de)、呈渦流狀流動的(‌€★de)電(diàn)流（渦流），渦流會(huì)産生(sπ&∞hēng)一(yī)與激勵磁場(chǎng)方向相(xiàng)反的(de)磁場(chǎng♣φ)，使線圈中的(de)原磁場(chǎng)有(yǒu)部分(fēn)減少(§β∞¶shǎo)，從(cóng)而引起線圈阻抗的(de)變化(hεε↓uà)。如(rú)果鑄件(jiàn)表面存在缺陷，則渦"'¥α流的(de)電(diàn)特征會(huì)發生(shēng)畸變，從(c•↔óng)而檢測出缺陷的(de)存在，渦流檢βπ☆測的(de)主要(yào)缺點是(shì)™©™不(bù)能(néng)直觀顯示探測出的(de)缺陷大(dà)小(xiǎo)和(​↓↓hé)形狀，一(yī)般隻能(néng)确定出缺陷所在表面位置和(hé)深度，另外$©φβ(wài)它對(duì)工(gōng)件(jiàn)表面上(shàng)小(xiǎo)↔↓→的(de)開(kāi)口缺陷的(de)檢出靈敏度不(bù)如(↓φ€βrú)滲透檢測。
　　3）磁粉檢測
　　磁粉檢測适合于檢測表面缺陷及表面以下(xià)數(shù)毫米深的(₽★de)缺陷，它需要(yào)直流（或交流）磁化(huà)設備和(hé)磁粉（☆₩或磁懸浮液）才能(néng)進行(xíng)檢測操作(zuò)。磁化(huà)設♥←₽備用(yòng)來(lái)在鑄件(jiàn)內(nèi)外(w↑δ ài)表面産生(shēng)磁場(chǎng)，磁粉♠ ✔或磁懸浮液用(yòng)來(lái)顯示缺$↔陷。當在鑄件(jiàn)一(yī)定範圍內(nèi)産生(shēng)磁場(c​λ♣hǎng)時(shí)，磁化(huà)區(qū)域內(nèi)的(de)缺陷就(jiù)會(©€huì)産生(shēng)漏磁場(chǎng)，當撒上(↕♥shàng)磁粉或懸浮液時(shí)，磁粉被吸住，這(zhè)樣就(jiù)可(kě)以顯示出®✘缺陷來(lái)。這(zhè)樣顯示出的(de)缺陷基本上(shàng)都(dō ♥u)是(shì)橫切磁力線的(de)缺陷，對(duì)于平''行(xíng)于磁力線的(de)長(cháng)條型缺陷則顯示不(bù $±)出來(lái)，為(wèi)此，操作(zuò)時(shí)需$×‍☆要(yào)不(bù)斷改變磁化(huà)方向，以保證能(nén<β$€g)夠檢查出未知(zhī)方向的(de)各個β∑ (gè)缺陷。
　　二、鑄件(jiàn)內(nèi)部缺陷的(de)檢測
　　對(duì)于內(nèi)部缺陷，常用(y¥®©αòng)的(de)無損檢測方法是(shì)射線檢測和(hé) β±超聲檢測。其中射線檢測效果最好(hǎo)，它能(néng)夠得(dε✘☆‌e)到(dào)反映內(nèi)部缺陷種類、形狀、大(dà)↑₩α小(xiǎo)和(hé)分(fēn)布情況¥✘↓ 的(de)直觀圖像，但(dàn)對(duì)于大(dà)厚度的(de)大(dà≈‌&)型鑄件(jiàn)，超聲檢測是(shì)很(hěn)有(yǒu)效的(de÷&)，可(kě)以比較精确地(dì)測出內(nèi)部缺陷的(de)位置、當量大δ♠(dà)小(xiǎo)和(hé)分(fēn)布情況。
　　1）射線檢測（微(wēi)焦點XRAY）
　　射線檢測，一(yī)般用(yòng)X射線​≠∞或γ射線作(zuò)為(wèi)射線源，因此需要(± αyào)産生(shēng)射線的(de)設備和(hé)其他(tā)附屬設施，當工(gō₽☆ng)件(jiàn)置于射線場(chǎng)照(zhào)射時(shí)，射線的 "®π(de)輻射強度就(jiù)會(huì)受到(dào)鑄件(jiàn)內(nèi)部缺陷的§±(de)影(yǐng)響。穿過鑄件(jiàn)射出的±★↑(de)輻射強度随著(zhe)缺陷大(dà)小(α♠≠☆xiǎo)、性質的(de)不(bù)同而有(₽©yǒu)局部的(de)變化(huà)，形☆‌成缺陷的(de)射線圖像，通(tōng)過射線膠片予以顯像記錄，或者通(t₹εōng)過熒光(guāng)屏予以實時(shí)檢測觀察，或者通(tō✘<αng)過輻射計(jì)數(shù)儀檢測。其中通(tōng)過射線膠片顯像記錄的(de)₹★×方法是(shì)最常用(yòng)的(de)方法，也(yě)就(jiù)是(shì)通(♥δtōng)常所說(shuō)的(de)射線照(zhào)相(xiàng'♠'‍)檢測，射線照(zhào)相(xiàng)所反映出來(lái)的(de)缺陷圖像是(shì)直觀∏↕的(de)，缺陷形狀、大(dà)小(xiǎo)、數(shù)量、平面位置和(hé)分(©∞☆☆fēn)布範圍都(dōu)能(néng)呈現(xiàn)出來(lái)，φσ隻是(shì)缺陷深度一(yī)般不(bù)能(néng)反映出來(lái)，需要(yào)采δ®'取特殊措施和(hé)計(jì)算(suàn)才能(néng)确定。國(guó)際鑄業(yè)©<網出現(xiàn)應用(yòng)射線計(jì)算(suàn)機(jī)層析照¶™(zhào)相(xiàng)方法，由于設備比較昂貴，使用™ ↑¶(yòng)成本高(gāo)，無法普及，但(d≥ε  àn)這(zhè)種新技(jì)術(shù)代表了(le)高(gāo)清晰度射線檢測©÷♥✘技(jì)術(shù)未來(lái)發展的(de)方向。此外(wài)，使用§Ω♣(yòng)近(jìn)似點源的(de)✔ ♦φ微(wēi)焦點X射線系統實際上(shàng)也(yě)可(kě)消除較大(dà)焦點設備産生(s±→φσhēng)的(de)模糊邊緣，使圖像輪廓清晰。使用(yòng)數(shù)字圖像系統可(α☆>γkě)提高(gāo)圖像的(de)信噪比，進一(yī)步提高(gāo)圖像清晰度。
　　2）超聲檢測
　　超聲檢測也(yě)可(kě)用(yòng)于檢查內(nèi)部缺陷，它是(shì)✘€§利用(yòng)具有(yǒu)高(gāo)頻(pí>δ↑n)聲能(néng)的(de)聲束在鑄件(jiàn)內(nèi)部的(de)傳播中，碰₽ε©​到(dào)內(nèi)部表面或缺陷時(shí)産生(shēng)反射而發現(xiàn®♦≥σ)缺陷。反射聲能(néng)的(de)大(dà)小(xiǎo)是(shì)內(nèi★★‍)表面或缺陷的(de)指向性和(hé)性質以及這(zhè)種反射體(tǐ)的(d♥∑e)聲阻抗的(de)函數(shù)，因此可(kě)以應用(yòng)各種缺陷或≠¶內(nèi)表面反射的(de)聲能(néng)來(lái)檢測缺陷的≥>(de)存在位置、壁厚或者表面下(xià)缺陷的(de)深度。超聲檢測作(zuò)為(w♣ èi)一(yī)種應用(yòng)比較廣泛的(de)無損檢測手段，其主要(yào)優勢表Ω₽"α現(xiàn)在：檢測靈敏度高(gāo)，可(kě)以探測細小(x©↑iǎo)的(de)裂紋；具有(yǒu)大♥π‌₽(dà)的(de)穿透能(néng)力，可(kě)以探♥δλ"測厚截面鑄件(jiàn)。其主要(yào)局限♠→→ 性在于：對(duì)于輪廓尺寸複雜(zá)和(hé)$λ∏↑指向性不(bù)好(hǎo)的(de)斷開(kāi)性缺陷的(de)反射波形解釋困難；對(duì"≈ ♥)于不(bù)合意的(de)內(nèi)部結構，例如(rú)晶粒大(dà)小(xiǎo)≠<¶↑、組織結構、多(duō)孔性、夾雜(zá)含量或細ε™π小(xiǎo)的(de)分(fēn)散析出物(wù)等，同樣妨礙波形解釋；另外(wài)，檢 ₽測時(shí)需要(yào)參考标準試塊。